กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง Atomic Force Microscope (High Resolution) ยี่ห้อเครื่องมือ Seiko Instruments รุ่นเครื่องมือ SPI3800N / SPA400 รายละเอียดเครื่องมือ ตรวจวัดพื้นผิวตัวอย่างของแข็ง แสดงภาพพื้นผิวแบบ 2-3 มิติ / วิเคราะห์ข้อมูลด้านขนาด-ความขรุขระของพื้นผิว/ ขนาดพื้นที่ตรวจวัดไม่เกิน 20×20 ไมโครเมตรต่อหนึ่งจุด คณะ/วิทยาลัย คณะวิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ สจล.