กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง

Atomic Force Microscope (High Resolution)

ยี่ห้อเครื่องมือ

Seiko Instruments

รุ่นเครื่องมือ

SPI3800N / SPA400

รายละเอียดเครื่องมือ

ตรวจวัดพื้นผิวตัวอย่างของแข็ง แสดงภาพพื้นผิวแบบ 2-3 มิติ / วิเคราะห์ข้อมูลด้านขนาด-ความขรุขระของพื้นผิว/ ขนาดพื้นที่ตรวจวัดไม่เกิน 20×20 ไมโครเมตรต่อหนึ่งจุด

คณะ/วิทยาลัย

คณะวิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ สจล.

Scroll to Top